儀器.jpg "顯微鏡")
機(jī).png "萬 能試驗(yàn)機(jī)")
境試驗(yàn)箱.png "環(huán)境試驗(yàn)箱")
機(jī).jpg "進(jìn)口打標(biāo)機(jī)")
測量機(jī)/x5.jpg "長度測量")
測儀器.jpg "表面光學(xué)檢測")
測量機(jī).jpg "三坐標(biāo)測量")
離子減簿儀產(chǎn)品介紹
使用徠卡 EM RES102，使您的樣品具備最高水平的靈活性，具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結(jié)構(gòu)。獨(dú)特的離子束研磨系統(tǒng)結(jié)合了在一個(gè)單工作臺(tái)面單元上制備TEM、SEM和LM樣品的特點(diǎn)。
各種樣品架可以進(jìn)行多元化應(yīng)用。除了高能量的離子銑工藝，徠卡EM RES102也可適于采用低離子能量處理非常柔軟的樣本。
高效并節(jié)約成本
TEM，SEM和LM應(yīng)用功能集于一體
SEM樣品制備最大可達(dá)25mm樣品直徑
TEM樣品制備獲得的薄區(qū)大，有效提高了TEM樣品制備效率
局域網(wǎng)功能方便遠(yuǎn)程操控
安全
離子源和樣品運(yùn)動(dòng)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，程序化控制，因而可獲得重復(fù)性制樣結(jié)果
保持樣品原生態(tài)
LN2樣品臺(tái)使得溫度敏感型樣品可在優(yōu)化條件下進(jìn)行離子研磨
操作簡便
內(nèi)置應(yīng)用參數(shù)庫
幫助文件幫助初學(xué)者以及對(duì)設(shè)備進(jìn)行維護(hù)
TEM或SEM樣品制備 – 在于您的選擇
為了支持多樣化的應(yīng)用需求，Leica EM RES102 可以裝配各種樣品臺(tái)以適用于TEM，SEM及LM樣品制備。預(yù)抽室系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)樣品快速交換，從而可有效提高樣品交換效率 。
SEM
斜坡切割樣品臺(tái)適用于切割樣品獲得縱截面(90°)或斜截面(35°)，便于SEM觀察樣品內(nèi)部縱向結(jié)構(gòu)，可以在環(huán)境溫度下或 LN2 制冷情況下使用。
該樣品臺(tái)適用于SEM和LM樣品的離子束清潔，拋光和襯度增強(qiáng)，可在環(huán)境溫度下或 LN2制冷情況下使用。SEM樣品臺(tái)可以制備最大尺寸達(dá) 25mm 的樣品。適配器用于夾持商品化生產(chǎn)的帶有3.1mm直徑插針的SEM樣品座。
薄片樣品臺(tái)用于夾持最大尺寸為5(H)×7(W)×2(D) mm樣品。該樣品臺(tái)可以很方便地被直接轉(zhuǎn)移進(jìn)SEM中，而不需要取出樣品。
TEM
TEM樣品夾用于單面或雙面離子束減薄，減薄角度可低至4°。
TEM冷凍樣品夾具與LN2制冷裝置聯(lián)用，用于制備溫度敏感型樣品。
FIB清潔樣品臺(tái)用于清潔FIB樣品，減少表面無定形非晶層。
離子減簿儀技術(shù)參數(shù)
離子減簿儀標(biāo)準(zhǔn)配置
離子減簿儀可選配件
離子減簿儀相關(guān)視頻
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離子減簿儀資料下載
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離子減簿儀相關(guān)產(chǎn)品
儀器/日本Nikon顯微鏡/方JCM 6000臺(tái)式電子掃描顯微鏡.jpg "臺(tái)式電子掃描顯微鏡")
