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當前位置:首頁 >> 顯微鏡 >> 體視顯微鏡 >>日本Nikon偏光顯微鏡ECLIPSE Ci-POL
偏光顯微鏡

偏光顯微鏡

透射性照明系統,日本尼康偏光顯微鏡

  • 型號:ECLIPSE Ci-POL
  • 品牌:尼康Nikon
  • 產地:日本
遵循標準:
簡介:
創誠致佳銷售的體視顯微鏡有多功能變焦顯微鏡、研究級體視顯微鏡、工業顯微鏡、正置研究級顯微鏡、高清晰度顯微鏡等多種產品,為您提供產品介紹及報價。 本{content.title}的特點:具備出色光學特性與易用性的緊湊型偏光顯微鏡。
硬度測試
金相制樣(切割,磨拋,鑲嵌)
顯微鏡
質構儀、物性分析
橡膠制品測試
萬 能試驗機
環境試驗箱
量具
進口打標機
紅外熱像儀
厚度測量
粗糙度儀
探傷儀
長度測量
汽車專用檢測設備
密度濃度計
表面光學檢測
三坐標測量
其他儀器設備

偏光顯微鏡產品介紹

偏光顯微鏡ECLIPSE Ci-POL

緊湊靈巧,ECLIPSE Ci-POL是個人型偏光顯微鏡且無需占用您的整個桌面。具備尖端的CFI60光學系統,其提供出色的光學特性與友好的使用易用性。內置的一鍵拍照按鈕就位于機身底座的前部,與尼康DS相機配合可實現一鍵拍照。

透射照明型
物鏡轉盤使用與LV100N POL相同的DIN標準補償器插槽。因此可以使用各種補償器用于高級的定量測量。五個物鏡都可進行對中。
 標準中間筒整合勃氏鏡,可進行觀察亦可進行錐光與無畸變成像。

業內廣受贊譽的CFI60無限遠光學系統,可同時具有長工作距離與高NA值并可獲得銳利的無色差圖像。其私用環保玻璃制造無鉛砷等有害物質
 落射型物鏡來自    新研發的CFI60-2系列物鏡可以獲得任何倍數獲得銳利無色差的圖像。
 CFI P Achromat 物鏡(用于透射照明)
 CFI TU Plan Fluor P物鏡(用于落射照明)
 ? 對焦行程提升為30mm,可更方便用于高樣品觀察。
 ? 對焦上行限位機構方便易用并可保證更換樣品時的安全性。
 ? 低成本優勢結合高精密制造,使標準型的偏光顯微鏡同時具有絕佳日常性能。

透射式/落射式照明機型                     
使用LV-UEPI-N通用型落射照明裝置可同時具備透射與落射的偏光觀察能力。
標配的落射照明使用高亮度50W鹵素燈,提供比100W燈泡更亮的照明。借助噪聲消除裝置可獲取高信噪比的銳利圖像。

偏光顯微鏡技術參數

偏光顯微鏡標準配置


配置

序號

名稱

數量

1

主機

1

2

物鏡

1

3

底座

1

4

光學系統

1

5

照明裝置

1

6

對焦裝置

1


偏光顯微鏡可選配件

偏光顯微鏡相關視頻

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偏光顯微鏡資料下載

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