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當(dāng)前位置:首頁(yè) >> 厚度測(cè)量 >> 涂層測(cè)厚儀 >>德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀MINITEST 1100-4100
硬度測(cè)試
金相制樣(切割,磨拋,鑲嵌)
顯微鏡
質(zhì)構(gòu)儀、物性分析
橡膠制品測(cè)試
萬(wàn) 能試驗(yàn)機(jī)
環(huán)境試驗(yàn)箱
量具
進(jìn)口打標(biāo)機(jī)
紅外熱像儀
厚度測(cè)量
粗糙度儀
探傷儀
長(zhǎng)度測(cè)量
汽車(chē)專(zhuān)用檢測(cè)設(shè)備
密度濃度計(jì)
表面光學(xué)檢測(cè)
三坐標(biāo)測(cè)量
其他儀器設(shè)備

涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹

MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;

所有型號(hào)均可配所有探頭;

可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);

可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。


所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

型號(hào)

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量

應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

1

1

10

99

每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)

-

1

500

500

數(shù)據(jù)總量

1

10000

10000

10000

MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar

-

讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar

-

-

組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

-

-

-

分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值

-

-

顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間

-

其他功能

設(shè)置極限值

-

-

連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別最大最小值

-

-

連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

-

-

連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值

-

-


探頭

量程

低端分辨率

誤差

最小曲率半徑

最小測(cè)量區(qū)域直徑

最小基體厚度

探頭尺寸
  (mm)


  感
  應(yīng)
  法

F05

0-500um

0.1um

±(1%±0.7um)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62

F1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62

F1.6/90

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170

F2/90

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170

F3

0-3000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62

F10

0-10mm

5um

±(1%±10um)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46

F20

0-20mm

10um

±(1%±10um)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66

F50

0-50mm

10um

±(3%±50um)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70


  用

FN1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50um

φ15x62

FN1.6P

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面

30mm

F0.5mm/N50um

φ21x89

FN2

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50um

φ15x62


  渦
  流
  法

N02

0-200um

0.1um

±(1%±0.5um)

1/10mm

2mm

50um

φ16x70

N.08Cr

0-80um

0.1um

±(1%±1um)

2.5mm

2mm

100um

φ15x62

N1.6

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

1.5/10mm

2mm

50um

φ15x62

N1.6/90

0-1600um

0.1um

±(1%±1um)

平面/10mm

5mm

50um

φ13x13x170

N2

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

1.5/10mm

5mm

50um

φ15x62

N2/90

0-2000um

0.2um

±(1%±1um)

平面/10mm

5mm

50um

φ13x13x170

N10

0-10mm

10um

±(1%±25um)

25/100mm

50mm

50um

φ60x50

N20

0-20mm

10um

±(1%±50um)

25/100mm

70mm

50um

φ65x75

N100

0-100mm

100um

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50um

φ126x155

CN02

10-200um

0.2um

±(1%±1um)

平面

7mm

無(wú)限制

φ17x80


涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī);

探頭;

包裝盒;

RS232數(shù)據(jù)線;

打印機(jī);


涂層測(cè)厚儀可選配件

主機(jī):MiniTest1100/2100/3100/4100;

探頭:F/N/FN型;


涂層測(cè)厚儀相關(guān)視頻

暫時(shí)不能提供,如需要詳細(xì)資料,請(qǐng)主動(dòng)與我們聯(lián)系。

涂層測(cè)厚儀資料下載

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涂層測(cè)厚儀相關(guān)產(chǎn)品

 超聲波精密測(cè)厚儀
全新的Elcometer 307超聲波精密測(cè)厚儀可進(jìn)行高精確度的薄材料測(cè)量。
 涂層測(cè)厚儀
?易高456提升新標(biāo)準(zhǔn);提供可靠而精確的涂層 厚度測(cè)量結(jié)果,提高工作效率。
易高456有3種不同型號(hào)可選。每種儀器的功能不斷增加,從入門(mén)型456 B,到高級(jí)型的456 T。
磁性測(cè)厚儀
?FISCHER生產(chǎn)的涂鍍層測(cè)厚儀主要分為:X射線涂鍍層測(cè)厚及材料分析儀、β射線測(cè)厚儀、電渦流法測(cè)厚儀、電磁感應(yīng)測(cè)厚儀、庫(kù)侖法(多層鎳電位差)測(cè)厚儀,除此之外還有包括 微納米硬度測(cè)試儀、電導(dǎo)率測(cè)試儀、鐵素體含量測(cè)試儀、孔隙率測(cè)試儀 和 針孔測(cè)試儀 等在內(nèi)的多種測(cè)試儀器。
涂鍍層測(cè)厚儀
?德國(guó)Fischer MPOR涂鍍層測(cè)厚儀為快速且簡(jiǎn)便測(cè)量而設(shè)計(jì)。

北京創(chuàng)誠(chéng)致佳科技有限公司專(zhuān)業(yè)從事分析測(cè)試儀器設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)制造、市場(chǎng)開(kāi)發(fā)、國(guó)際貿(mào)易、銷(xiāo)售及技術(shù)服務(wù)。